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| 品牌 | Enlitech | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子/電池,汽車及零部件 | 暗計數(Dark?Count?Rate) | DCR |
| 產地類別 | 進口 | 測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
SPD2200具備全光譜性能測試包含：
*全光譜光譜回應（SR， Spectral Responsivity）
*全光譜量子效率（EQE， External Quantum Efficiency）
*全光譜光子探測率（PDP， Photon Detection Probability）
*暗計數DCR （Dark Count Rate）
*崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）
SPD2200亦能夠測試SPD的單光子辨析特性分析，包含：
*Jitter
*Afterpulsing probability
*Diffusion tail
*SNR
SPD2200整合了所有*進光學與電學系統，搭配光焱科技多年光感測器測試與分析的經驗，提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。 SPD2200可幫助您節省系統搭設的時間成本，並降低測試結果的不確定性。 加快產品的開發週期，提升產品的競爭力。
*SPAD的暗計數與偏壓關係圖
*SPAD暗計數與崩潰電壓
*在不同電壓下SPAD光子探測效率的PDE光譜
*SPAD的Jitter測量
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